按键寿命试验介绍,键盘,鼠标,遥控器,手提电脑,墙壁开关,收银机等按键
按键寿命试验
详细介绍:
1.目的:
制定规范的操作指引电脑键盘错乱 ,提供试验人员进行按鍵寿命试验;
模拟用户日常使用电话的情形,试验在不同部位的按鍵寿命情況电脑键盘错乱 。
2.范围:
适用于所有电话机成品(除客户特殊要求外)以及物料电脑键盘错乱 。
3.参考文件:
WQA9151-- Reliability Test Items for North American Vtech and AT&T Brand Products.
WQA9152-- Reliability Test Items for Vtech Europe Products.
4.定义:
无电脑键盘错乱 。
5.责任:
试验申请者提供试验功能正常的样品电脑键盘错乱 ,并填写试验申请单;
实验室负责人负责完成所有的可靠性测试电脑键盘错乱 ,并以E-Mail形式将试验结果通知Project Leader和申请者,试验完毕后发出的正式的报告,并将样品退还申请人;
对于Failure的项目电脑键盘错乱 ,实验室负责人要在當天内通知相关负责人员,并协助分析Fail的原因;
相关部门在必要时提供改善行动,并且送改善后的Sample到实验室,重做测试,以确认改善行动是否有效电脑键盘错乱 。
6.程序
冲头的调校及安装(按鍵寿命测试);
逐一调校冲头上的弹簧行程电脑键盘错乱 ,用弹力计测量,使之符合按压距离 3.0±0.2mm时压力为450~600g;
将调校好的冲头正确地安装在冲压机上;
做按鍵寿命试验电脑键盘错乱 ,VTECH标准要求如下:
机械寿命次数
试验过程中需每一万次停下来检查一次,如有问题需详细记录电脑键盘错乱 。
7.试验要求
试验中和试验后按鍵功能正常;
试验中和试验后按鍵有任何的机械损坏都是不可以接受的
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